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高低温试验箱

  • 更新时间:  2020-09-14
  • 产品型号:  ASTD-GDW-30
  • 简单描述
  • 为限制辐射影响,设备内壁各部分温度与试验规定的温度之差不大于3%,且试验样品不会受到设备内加热与冷却元件的直接辐射。高低温试验箱
详细介绍
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分类高低温试验箱

高低温试验箱

高低温试验箱

小型高低温试验箱用来考核和确定电工电子产品或材料在温度循环变化产品表面产生高温或低温环境条件下贮存和使用的适应性设备采用强迫空气循环来保持工作室内温度的均匀性为限制辐射影响设备内壁各部分温度与试验规定的温度之差不大于3%且试验样品不会受到设备内加热与冷却元件的直接辐射

观察窗内侧安装 EC 膜加热除霜装置,使您在任何时候都可以通过观察窗清晰地观察箱内供试样品的试验状况。

显示器(彩色触摸式控制屏)

程序储存容量 120 组(每种模式大 99 步)

循环次数全部循环 999 次部份循环 4 组,每组 99 次

HGTH 系列产品能满足以下各项标准:

GB-2423.1-89(IEC68-2-1)试验 A:低温试验方法。

GB-2423.2-89(IEC68-2-2)试验 B:高温试验方法。

GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高温寿命试验。

GBJ150.3(MIL-STD-810D)高温试验方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。

  • 内容量:30L/40L(可定制)
  • 温度范围-40℃~150℃
  • 温度波动度≤±0.5℃
  • 温度均匀性≤2.0℃
  • 温度下降时间:+75℃~ -40℃(120分钟内)
  • 温度上升时间:-40℃~ +75℃(60分钟内)


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